1. 粉末滴樣法
適用范圍：可直接分散于溶劑中的粉末樣品/納米粒子。由于TEM透射電鏡觀察時(shí)，尺寸太大/太厚的顆粒不能被電子束穿透，所以納米粒子尺寸/厚度最好在亞微米或納米尺度。
案例：量子點(diǎn)，納米線，納米片，塊體材料經(jīng)研磨后的粉末，等等。
操作方法：將粉末放在溶劑里(無水乙醇，蒸餾水，己烷，等等)，采用超聲分散均勻后(一般選擇20分鐘左右，特殊情況需注明)，滴在支持膜(普通碳膜，超薄碳膜，微柵，銅網(wǎng)，金網(wǎng)，鉬網(wǎng)，等等)上，干燥后進(jìn)行透射電鏡觀察。
2. 樹脂包埋法+離子減薄法
適用范圍：由于尺寸較大，不可直接分散于溶劑中的顆粒樣品。
包埋劑：理想的包埋劑應(yīng)具有高強(qiáng)度，高溫穩(wěn)定性，與多種溶劑(如乙醇、丙酮等)不起反應(yīng)，常用的幾種包埋劑： G-1， G-2，610，812E。
制樣方法：樹脂包埋后， 采用超薄切片制備TEM樣品;或采用機(jī)械研磨的方法減薄至50μm左右，然后氬離子轟擊減薄。具體過程根據(jù)實(shí)驗(yàn)材料及測(cè)試目的進(jìn)行選擇?！ ?.塊體金屬樣品FIB制樣； 4.塊體平面樣品離子減薄制樣； 5.碳膜之間的區(qū)別以及如何選擇； 6.透射電鏡操作實(shí)戰(zhàn)視頻；
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