就石墨烯的研究來(lái)說(shuō)，確定其層數(shù)以及量化無(wú)序性是至關(guān)重要的。激光顯微拉曼光譜恰好就是表征上述兩種性能的標(biāo)準(zhǔn)理想分析工具。通過(guò)測(cè)量石墨烯的拉曼光譜我們可以判斷石墨烯的層數(shù)、堆垛方式、缺陷多少、邊緣結(jié)構(gòu)、張力和摻雜狀態(tài)等結(jié)構(gòu)和性質(zhì)特征。本文材料+小編將為大家揭秘石墨烯拉曼光譜測(cè)試。

　　2004年英國(guó)曼徹斯特大學(xué)的A.K.Geim領(lǐng)導(dǎo)的小組首次通過(guò)機(jī)械玻璃的方法成功制備了新型的二維碳材料-石墨烯(graphene)。自發(fā)現(xiàn)以來(lái)，石墨烯在科學(xué)界激起了巨大的波瀾，它在各學(xué)科方面的優(yōu)異性能，使其成為近年來(lái)化學(xué)、材料科學(xué)、凝聚態(tài)物理以及電子等領(lǐng)域的一顆新星。

　　就石墨烯的研究來(lái)說(shuō)，確定其層數(shù)以及量化無(wú)序性是至關(guān)重要的。激光顯微拉曼光譜恰好就是表征上述兩種性能的標(biāo)準(zhǔn)理想分析工具。通過(guò)測(cè)量石墨烯的拉曼光譜我們可以判斷石墨烯的層數(shù)、堆垛方式、缺陷多少、邊緣結(jié)構(gòu)、張力和摻雜狀態(tài)等結(jié)構(gòu)和性質(zhì)特征。此外，在理解石墨烯的電子聲子行為中，拉曼光譜也發(fā)揮了巨大作用。

　　石墨烯的典型拉曼光譜圖

　　石墨烯的拉曼光譜由若干峰組成，主要為G峰，D峰以及G'峰。G峰是石墨烯的主要特征峰，是由sp2碳原子的面內(nèi)振動(dòng)引起的，它出現(xiàn)在1580cm-1附近，該峰能有效反映石墨烯的層數(shù)，但極易受應(yīng)力影響。D峰通常被認(rèn)為是石墨烯的無(wú)序振動(dòng)峰，該峰出現(xiàn)的具體位置與激光波長(zhǎng)有關(guān)，它是由于晶格振動(dòng)離開(kāi)布里淵區(qū)中心引起的，用于表征石墨烯樣品中的結(jié)構(gòu)缺陷或邊緣。G'峰，也被稱為2D峰，是雙聲子共振二階拉曼峰，用于表征石墨烯樣品中碳原子的層間堆垛方式，它的出峰頻率也受激光波長(zhǎng)影響。舉例來(lái)說(shuō)，圖1[1]為514.5nm激光激發(fā)下單層石墨烯的典型拉曼光譜圖。其對(duì)應(yīng)的特征峰分別位于1582cm-1附近的G峰和位于2700cm-1左右的G'峰，如果石墨烯的邊緣較多或者含有缺陷，還會(huì)出現(xiàn)位于1350cm-1左右的D峰，以及位于1620cm-1附近的D'峰。

　　圖1 514nm激光激發(fā)下單層石墨烯的典型拉曼光譜圖[1]

　　當(dāng)然對(duì)于sp2碳材料，除了典型的拉曼G峰，D峰以及G'峰，還有一些其它的二階拉曼散射峰，大量的研究表明石墨烯含有一些二階的和頻與倍頻拉曼峰，這些拉曼信號(hào)由于其強(qiáng)度較弱而常常被忽略。如果對(duì)這些弱信號(hào)的拉曼光譜進(jìn)行分析，也可以很好地對(duì)石墨烯中的電子-電子、電子-聲子相互作用及其拉曼散射過(guò)程進(jìn)行系統(tǒng)的研究。

　　石墨烯拉曼光譜與層數(shù)的關(guān)系

　　多層和單層石墨烯的電子色散不同，導(dǎo)致了拉曼光譜的明顯差異。圖2 [1,2]為532nm激光激發(fā)下，SiO2(300nm)/Si基底上1~4層石墨烯的典型拉曼光譜圖，由圖可以看出，單層石墨烯的G'峰尖銳而對(duì)稱，并具有完美的單洛倫茲(Lorentzien)峰型。此外，單層石墨烯的G'峰強(qiáng)度大于G峰，且隨著層數(shù)的增加，G'峰的半峰寬(FWHM：full width at half maximum)逐漸增大且向高波數(shù)位移(藍(lán)移)。雙層石墨烯的G'峰可以劈裂成四個(gè)洛倫茲峰，其中半峰寬約為24cm-1。這是由于雙層石墨烯的電子能帶結(jié)構(gòu)發(fā)生分裂，導(dǎo)帶和價(jià)帶均由兩支拋物線組成，因此存在著四種可能的雙共振散射過(guò)程(即G'峰可以擬合成四個(gè)洛倫茲峰)。同樣地，三層石墨烯的G'峰可以用六個(gè)洛倫茲峰來(lái)擬合。此外，不同層數(shù)的石墨烯的拉曼光譜除了G'峰的不同，G峰的強(qiáng)度也會(huì)隨著層數(shù)的增加而近似線性增加(10層以內(nèi)，如圖3[3]所示)，這是由于在多層石墨烯中會(huì)有更多的碳原子被檢測(cè)到。綜上所述，1~4層石墨烯的G峰強(qiáng)度有所不同，且G'峰也有其各自的特征峰型以及不同的分峰方法，因此，G峰強(qiáng)度和G'峰的峰型常被用來(lái)作為石墨烯層數(shù)的判斷依據(jù)。但是當(dāng)石墨烯層數(shù)增加到4層以上時(shí)，雙共振過(guò)程增強(qiáng)，G'峰也可以用兩個(gè)洛倫茲峰來(lái)擬合，拉曼譜圖形狀越接近石墨。所以，利用拉曼光譜用來(lái)測(cè)定少層石墨烯的層數(shù)具有一定的優(yōu)越性(清楚、高效、無(wú)破壞性)，其給出的是石墨烯的本征信息，而不依賴于所用的基底。

　　圖2 (a)1,2,3,4層石墨烯的拉曼光譜;(b)1~4層石墨烯的拉曼G'峰 [1,2]

　　舉例說(shuō)明，圖3[3]揭示了1~10層石墨烯的拉曼光譜(1550cm-1-1640cm-1)，右上角插入的圖為石墨烯材料在60 Torr的NO2下熱暴露前后的拉曼光譜圖。由圖可知，對(duì)于單層石墨烯和雙層石墨烯，G峰分別位于1614 cm-1和1608 cm-1附近。而三層石墨烯的G峰被劈裂成兩個(gè)峰，分別位于1601.5 cm-1和1584 cm-1附近，后者標(biāo)記為G-(低強(qiáng)度峰)。隨著石墨烯層數(shù)超過(guò)3層時(shí)，G峰出現(xiàn)在1582 cm-1和1598 cm-1處，低強(qiáng)度峰的峰強(qiáng)也隨著層數(shù)的增加而增加。由此可以確認(rèn)NO2在石墨烯最表層和最里層的吸附效果。

　　圖3 1~10層石墨烯的拉曼光譜[3]

　　含有缺陷石墨烯的拉曼光譜分析

　　眾所周知，石墨烯是一種零帶隙的二維原子晶體材料，為了適應(yīng)其快速應(yīng)用，人們發(fā)展了一系列方法來(lái)打開(kāi)石墨烯的帶隙，例如：打孔，用硼或氮摻雜和化學(xué)修飾等，這樣就會(huì)給石墨烯引入缺陷，從而對(duì)其電學(xué)性能和器件性能有很大的影響。拉曼光譜在表征石墨烯材料的缺陷方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)，帶有缺陷的石墨烯在1350cm-1附近會(huì)有拉曼D峰，一般用D峰與G峰的強(qiáng)度比(ID/IG)以及G峰的半峰寬(FWHM)來(lái)表征石墨烯中的缺陷密度 [4, 5]。圖4 [4]揭示了ID/IG隨著37Cl+輻照能量增加的變化曲線圖及對(duì)應(yīng)的輻照能量的HRTEM圖。ID/IG的最大值出現(xiàn)在37Cl+輻照能量約為1014 ions/cm2處。研究表明，缺陷密度正比于ID/IG，因此此時(shí)的缺陷是最多的。進(jìn)一步增加輻照能量(1016inos/cm2)，樣品已經(jīng)完全非晶化了(HRTEM)。拉曼光譜依然有效，這是因?yàn)闃悠啡员Ａ袅藄p2結(jié)構(gòu)的相。此外，含有缺陷的石墨烯還會(huì)出現(xiàn)位于1620cm-1附近的D'峰。ID/ID，與石墨烯表面缺陷的類型密切相關(guān) [5]。綜上所述，拉曼光譜是一種判斷石墨烯缺陷類型和缺陷密度的非常有效的手段。

　　圖4 ID/IG隨著37Cl+輻照能量增加的變化曲線圖及對(duì)應(yīng)的輻照能量的HRTEM圖[4]

　　石墨烯的表面增強(qiáng)拉曼效應(yīng)

　　當(dāng)一些分子吸附在特定的物質(zhì)(如金和銀)的表面時(shí)，分子的拉曼光譜信號(hào)強(qiáng)度會(huì)出現(xiàn)明顯地增幅，我們把這種拉曼散射增強(qiáng)的現(xiàn)象稱為表面增強(qiáng)拉曼散射(Surface-enhanced Raman scattering，簡(jiǎn)稱SERS)效應(yīng)。SERS技術(shù)克服了傳統(tǒng)拉曼信號(hào)微弱的缺點(diǎn)，可以使拉曼強(qiáng)度增大幾個(gè)數(shù)量級(jí)。當(dāng)然想要得到很強(qiáng)的增強(qiáng)信號(hào)首先需要得到很好的基底。石墨烯作為一種新型二維超薄碳材料，易于吸附分子，可以說(shuō)是天然的襯底。當(dāng)某些分子吸附在石墨烯表面時(shí)，分子的拉曼信號(hào)會(huì)得到明顯地增強(qiáng)。近年來(lái)，許多學(xué)者對(duì)此進(jìn)行了研究[6,7,8]，試驗(yàn)結(jié)果顯示石墨烯不僅可以增強(qiáng)分子拉曼光譜信號(hào)，還可以有效地淬滅熒光分子的熒光背低，為分析檢測(cè)提供了一個(gè)良好的平臺(tái)。我們把這種拉曼增強(qiáng)效應(yīng)稱為石墨烯增強(qiáng)拉曼散射效應(yīng)(GERS)。研究發(fā)現(xiàn)，單層石墨烯增強(qiáng)因子最大，可達(dá)17倍，隨著層數(shù)的增多，增強(qiáng)因子逐漸降低。圖5[9]揭示了單層石墨烯、金屬銀和羅丹明的協(xié)同增強(qiáng)SERS的穩(wěn)定性。圖5d為單層石墨烯在Ag基底上經(jīng)過(guò)連續(xù)激光輻照(每次間隔8min)后的拉曼光譜圖。

　　圖5單層石墨烯、金屬銀和羅丹明協(xié)同增強(qiáng)SERS的穩(wěn)定性[9]

　　此外，針尖增強(qiáng)拉曼散射(TERS)的發(fā)展把SERS和原子力顯微鏡(AFM)的分析結(jié)合了起來(lái)。目標(biāo)是真正實(shí)現(xiàn)拉曼分析的納米尺寸空間分辨率。通過(guò)將AFM的針尖包覆活性金屬或金屬納米粒子使其具有SERS活性，SERS增強(qiáng)效應(yīng)將可能只發(fā)生在針尖附近很小的范圍內(nèi)，一般針尖都小于100nm，從而使其空間分辨率也小于100nm。目前TERS測(cè)量石墨烯已經(jīng)獲得了成功 [10]，但是不是所有樣品都能得到很好的結(jié)果。這是由于TERS所取樣品的分子數(shù)目相應(yīng)地減少了幾個(gè)數(shù)量級(jí)，雖然SERS的拉曼強(qiáng)度有所增強(qiáng)，但并不是所有樣品最終的TERS強(qiáng)度能超過(guò)常規(guī)的拉曼信號(hào)。

　　拉曼光譜激光器波長(zhǎng)的選擇

　　從紫外、可見(jiàn)到近紅外波長(zhǎng)范圍的激光器均可用作拉曼光譜分析的激發(fā)光源，激光器波長(zhǎng)的選擇對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果有著重要影響，典型的激光器如下：

　　紫外：244nm，257nm，325nm，364nm

　　可見(jiàn)：457nm，488nm，514nm，532nm，633nm，660nm

　　近紅外：785nm，830nm，980nm，1064nm

　　拉曼散射強(qiáng)度與激光波長(zhǎng)的四次方成反比。

　　紫外激光器適合生物分子(蛋白質(zhì)、DNA等)的共振拉曼實(shí)驗(yàn)以及抑制樣品熒光，靈敏度高，325nm激發(fā)的拉曼強(qiáng)度是633nm激發(fā)的14倍。但目前紫外拉曼實(shí)驗(yàn)依然屬于高端技術(shù)，需要高水平專業(yè)技術(shù)人員操作;藍(lán)/綠激光器適合無(wú)機(jī)材料(如碳材料)，共振拉曼實(shí)驗(yàn)以及SERS，是目前最常用的激光器;紅色和近紅外適合于抑制樣品熒光，但是靈敏度很低，要想獲得相同的光譜質(zhì)量，通常耗時(shí)更長(zhǎng)。

　　常見(jiàn)問(wèn)題

　　1. 能否測(cè)試固體、液體、氣體的拉曼光譜

　　可以，理論上所有包含真實(shí)分子鍵的物質(zhì)都可以用于拉曼分析(金屬及合金除外，無(wú)法通過(guò)拉曼光譜分析)。氣體由于其分子密度特別低，測(cè)試氣體的拉曼光譜很難，通常需要大功率激光器和較長(zhǎng)路徑的樣品池。

　　2. 制備樣品要求

　　無(wú)需樣品制備，無(wú)論是固體、液體還是氣體樣品，都可以在它們本征的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試，無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行研磨、溶解、壓片等處理。拉曼光譜是完全非接觸、無(wú)損傷的，因此常用于考古中的顏料分析及重要的法庭物證的分析。

中企檢測(cè)認(rèn)證網(wǎng)提供iso體系認(rèn)證機(jī)構(gòu)查詢，檢驗(yàn)檢測(cè)、認(rèn)證認(rèn)可、資質(zhì)資格、計(jì)量校準(zhǔn)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)一站式行業(yè)企業(yè)服務(wù)平臺(tái)。中企檢測(cè)認(rèn)證網(wǎng)為檢測(cè)行業(yè)相關(guān)檢驗(yàn)、檢測(cè)、認(rèn)證、計(jì)量、校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)，儀器設(shè)備、耗材、配件、試劑、標(biāo)準(zhǔn)品供應(yīng)商，法規(guī)咨詢、標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)、實(shí)驗(yàn)室軟件提供商提供包括品牌宣傳、產(chǎn)品展示、技術(shù)交流、新品推薦等全方位推廣服務(wù)。這個(gè)問(wèn)題就給大家解答到這里了，如還需要了解更多專業(yè)性問(wèn)題可以撥打中企檢測(cè)認(rèn)證網(wǎng)在線客服13550333441。為您提供全面檢測(cè)、認(rèn)證、商標(biāo)、專利、知識(shí)產(chǎn)權(quán)、版權(quán)法律法規(guī)知識(shí)資訊，包括商標(biāo)注冊(cè)、食品檢測(cè)、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、網(wǎng)絡(luò)信息技術(shù)檢測(cè)、環(huán)境檢測(cè)、管理體系認(rèn)證、服務(wù)體系認(rèn)證、產(chǎn)品認(rèn)證、版權(quán)登記、專利申請(qǐng)、知識(shí)產(chǎn)權(quán)、檢測(cè)法、認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)等信息，中企檢測(cè)認(rèn)證網(wǎng)為檢測(cè)認(rèn)證商標(biāo)專利從業(yè)者提供多種檢測(cè)、認(rèn)證、知識(shí)產(chǎn)權(quán)、版權(quán)、商標(biāo)、專利的轉(zhuǎn)讓代理查詢法律法規(guī)，咨詢輔導(dǎo)等知識(shí)。

本文內(nèi)容整合網(wǎng)站：百度百科、搜狗百科、360百科、知乎、市場(chǎng)監(jiān)督總局 、國(guó)家認(rèn)證認(rèn)可監(jiān)督管理委員會(huì)、質(zhì)量認(rèn)證中心

免責(zé)聲明：本文部分內(nèi)容根據(jù)網(wǎng)絡(luò)信息整理，文章版權(quán)歸原作者所有。向原作者致敬！發(fā)布旨在積善利他，如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)和其它問(wèn)題，請(qǐng)跟我們聯(lián)系刪除并致歉！

本文來(lái)源： http://bqlw.net/zs/201907/ccaa_1431.html