一、測(cè)試報(bào)告命名

以 PTR202301-02 PESDUC2XD5VBN (C35線) 新品測(cè)試報(bào)告 為例說(shuō)明：

a. PTR--P公司品牌的首字母，TR--Test Report測(cè)試報(bào)告的英文首字母;

b.202301-02. 202301表示測(cè)試的年份和月份，02表示這個(gè)月的第2個(gè)測(cè)試報(bào)告;

c.PESDUC2XD5VBN表示所測(cè)試的產(chǎn)品型號(hào)，關(guān)于產(chǎn)品型號(hào)的命名，這次先略過(guò);

d.C35線，表示代號(hào)為C35的封裝廠，說(shuō)明該產(chǎn)品是在代號(hào)為C35的封測(cè)廠進(jìn)行封裝測(cè)試的;

d.新品測(cè)試報(bào)告，表示該測(cè)試報(bào)告的類型為新品測(cè)試報(bào)告。

二、測(cè)試報(bào)告內(nèi)容

1.報(bào)告扉頁(yè)

a.公司LOGO圖標(biāo);

b.產(chǎn)品型號(hào);

c.測(cè)試報(bào)告類型;

d.部門;

e.測(cè)試年月份;

f.公司名稱;

g.公司網(wǎng)址;

測(cè)試報(bào)告扉頁(yè)

2. 測(cè)試報(bào)告信息頁(yè)

包含測(cè)試的項(xiàng)目，測(cè)試產(chǎn)品的批次信息，測(cè)試人員，審核人員，批準(zhǔn)人員，測(cè)試日期，測(cè)試編號(hào)等信息。

測(cè)試報(bào)告信息頁(yè)

3.測(cè)試報(bào)告目錄頁(yè)

這一頁(yè)包含了測(cè)試報(bào)告的測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試的條件及方法數(shù)據(jù)，結(jié)論，為下面一步步做測(cè)試奠定了基礎(chǔ)。

測(cè)試項(xiàng)目

a.產(chǎn)品外觀和尺寸

外觀有無(wú)臟污，有無(wú)缺陷，焊盤有無(wú)針痕，有無(wú)氧化，產(chǎn)品的長(zhǎng)寬高尺寸有無(wú)超標(biāo);

b.產(chǎn)品的靜態(tài)性能：

產(chǎn)品的靜態(tài)測(cè)試參數(shù)，比如擊穿電壓，漏電，容值，觸發(fā)值，保持值等參數(shù);

c.產(chǎn)品的動(dòng)態(tài)性能：

比如動(dòng)態(tài)電容的測(cè)試，浪涌測(cè)試，TLP測(cè)試，ESD測(cè)試等;

測(cè)試內(nèi)容

a.測(cè)試條件，方法，數(shù)據(jù)，結(jié)論，這是為了進(jìn)一步規(guī)范測(cè)試內(nèi)容，使得測(cè)試結(jié)果的復(fù)現(xiàn)，準(zhǔn)確而設(shè)立的。

測(cè)試結(jié)論

a.測(cè)試結(jié)論，是測(cè)試的一個(gè)結(jié)果，是通過(guò)測(cè)試得出的一個(gè)結(jié)論，比如產(chǎn)品是好的還是壞的，某一項(xiàng)參數(shù)的具體數(shù)值是多少等，都會(huì)在這一頁(yè)得以體現(xiàn);

測(cè)試報(bào)告目錄頁(yè)

4.測(cè)試項(xiàng)目1：產(chǎn)品外觀和尺寸的確認(rèn)

這一頁(yè)詳細(xì)的說(shuō)明了產(chǎn)品外觀和尺寸確認(rèn)時(shí)的條件，方法，測(cè)試環(huán)境，測(cè)試設(shè)備的要求;

這項(xiàng)的關(guān)鍵點(diǎn)是，印字是否正確，長(zhǎng)寬高尺寸有無(wú)是否在范圍之內(nèi)，焊盤Pad的檢查;

產(chǎn)品外觀和尺寸的確認(rèn)

5.測(cè)試數(shù)據(jù)及外觀照片

這一部分就是用電子顯微鏡拍樣品的正面和反面，查看外觀有無(wú)缺陷，焊盤缺角方向，印字是否清晰。

產(chǎn)品外觀確認(rèn)

6.外觀尺寸測(cè)量數(shù)據(jù)

外觀尺寸測(cè)試了樣品的長(zhǎng)寬高數(shù)據(jù)，同時(shí)根據(jù)相應(yīng)的規(guī)格書，把范圍列出來(lái)，然后確認(rèn)尺寸是否超過(guò)規(guī)格書。

外觀尺寸測(cè)試

7.芯片尺寸測(cè)量

芯片尺寸觀察測(cè)試是把芯片燒掉，找出Die,放在顯微鏡下觀察并測(cè)試尺寸。

芯片尺寸測(cè)量

8.測(cè)試項(xiàng)目2：產(chǎn)品的靜態(tài)性能驗(yàn)證

ESD產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，靜態(tài)性能就是指漏電，擊穿電壓，容值，我們會(huì)用相應(yīng)的設(shè)備，去測(cè)試參數(shù)。

靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀我們用的是DTS-1000.電容測(cè)試儀我們用的是E4980A，同時(shí)測(cè)試時(shí)我們給了測(cè)試條件。

在測(cè)試時(shí)就按照測(cè)試條件去測(cè)試，得到測(cè)試值。

產(chǎn)品靜態(tài)性能驗(yàn)證

9.產(chǎn)品靜態(tài)性能驗(yàn)證的測(cè)試數(shù)據(jù)

這是一個(gè)雙向產(chǎn)品，正反都需要測(cè)試擊穿電壓及漏電流，以及容值，Typical是測(cè)試的典型值，測(cè)試完畢需要計(jì)算平均值，Pin1與Pin2的判別，是看Pad的缺角，或者小圓點(diǎn)的位置。

靜態(tài)性能測(cè)試數(shù)據(jù)

10.產(chǎn)品動(dòng)態(tài)電容測(cè)試

動(dòng)態(tài)電容測(cè)試反映的是加電時(shí)候的電容變化，對(duì)于一些電路可能會(huì)有影響，比如數(shù)據(jù)傳輸時(shí)，若容值變化較大，對(duì)電路影響較大。

動(dòng)態(tài)電容測(cè)試

11.TLP測(cè)試

TLP測(cè)試是利用傳輸線產(chǎn)生的矩形短脈沖來(lái)測(cè)量ESD保護(hù)器件電流-電壓特性曲線的方法，進(jìn)行TLP測(cè)試時(shí)，先從小電壓脈沖開始，逐步增加電壓直到獲得足夠多的數(shù)據(jù)點(diǎn)，作出完整的電壓-電流曲線。通常測(cè)試脈沖的幅度會(huì)加大到使DUT徹底損傷為止，獲得最大脈沖電流(二次崩潰電流)。通過(guò)這個(gè)電流值和TLP和HBM之間的等效關(guān)系，可以計(jì)算出器件的抗ESD能力。

TLP測(cè)試曲線圖

12.浪涌測(cè)試

這項(xiàng)測(cè)試就是測(cè)試ESD和TVS器件的抗浪涌能力，通過(guò)波形圖我們可以得出IPP，VC，以及浪涌耐壓值。

浪涌測(cè)試內(nèi)容

13.正向浪涌波形及數(shù)據(jù)記錄

這是為了記錄過(guò)程中我們測(cè)試的數(shù)據(jù)，由此說(shuō)明我們的電壓是一步一步上加的，一直加到器件Fail.

測(cè)試過(guò)程中波形圖

14.正向浪涌數(shù)據(jù)記錄

正向浪涌數(shù)據(jù)記錄

15.反向波形及數(shù)據(jù)記錄

測(cè)試過(guò)程中波形圖

16.反向浪涌數(shù)據(jù)記錄

反向浪涌數(shù)據(jù)記錄

17.產(chǎn)品ESD測(cè)試

ESD測(cè)試是按照IEC610004-2的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完畢后需要用測(cè)試機(jī)或示波器去檢查器件是否Fail，以此來(lái)判斷器件是否異常。

ESD測(cè)試方法

18.ESD測(cè)試及結(jié)果

ESD測(cè)試數(shù)據(jù)及結(jié)果

19.測(cè)試結(jié)論

測(cè)試完畢后，將測(cè)試的最終結(jié)果匯總在一頁(yè)P(yáng)PT中，如果結(jié)果有異常需要特別標(biāo)注出來(lái)。

測(cè)試結(jié)論

以上就是ESD產(chǎn)品及TVS產(chǎn)品的測(cè)試報(bào)告模板分享!

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